聚合物表面分析 X射线光电子谱 XPS 和静态次级离子质谱 SSIMS
作者： （英）D.布里格斯（D.Briggs）著；曹立礼，邓宗武译
关键词： 商聚物-工程材料-表面分析
页数：197
出版社： 北京：化学工业出版社
出版日期：
发现《聚合物表面分析 X射线光电子谱 XPS 和静态次级离子质谱 SSIMS》在 2023-07-13 可全文阅读或下载。
图书简介
本书深入论述了X射线光电子谱(XPS)和静态次级离子质谱(SSIMS)及其在聚合物材料研究中的应用，内容包括聚合物表面的重要性，X射线光电子谱(XPS)等。
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诉讼案号：（2022）川01民初4401，（2022）川01民初4403，（2022）川01民初4403，（2022）川0191民初19351号， （2022）川0191民初19594号，（2022）川0191民初20457号，（2022）川0191民初20459号， （2023）川知民终373号，（2023）川知民终374号，（2023）川知民终375号， （2024）川0191民初15977号，（2024）川0191民初15979号，（2024）川0191民初15980号， （2024）川0191民初15981号，（2024）川0191民初15982号
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