扫描电镜测长问题的探讨
删除本页内容作者:周剑雄，陈振宇主编
关键词:扫描电子显微镜-测量-研究
页数:276
出版社: 成都：电子科技大学出版社
出版日期:2005.10
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本书汇集了微米、纳米长度的扫描电镜测量领域的多年研究成果，其内容包括了对扫描电子显微镜实验的认证和认可问题进行了释疑，简要论述了与测长相关的技术问题，对提高实验室的分析水平具有重要意义。
扫描电子显微镜-测量-研究
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