扫描电镜测长问题的探讨 封面

扫描电镜测长问题的探讨

作者:

关键词: 扫描电子显微镜-测量-研究

页数:276

出版社: 成都:电子科技大学出版社

出版日期:

发现《扫描电镜测长问题的探讨》在 2023-07-19 可全文阅读或下载。

图书简介

本书汇集了微米、纳米长度的扫描电镜测量领域的多年研究成果,其内容包括了对扫描电子显微镜实验的认证和认可问题进行了释疑,简要论述了与测长相关的技术问题,对提高实验室的分析水平具有重要意义。

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