半导体封装测试制造系统运行优化理论与技术
作者： 倪妍婷著
ISBN：978-7-307-19034-4
关键词： 半导体工艺-封装工艺-测试-智能制造系统
页数：173
出版社： 武汉：武汉大学出版社
出版日期：
发现《半导体封装测试制造系统运行优化理论与技术》在 2025-10-21 可全文阅读或下载。
图书简介
本著作从系统化、协同化的角度构建适合半导体封装测试生产自身特点的协同体系结构,运用分布式人工智能技术中的多智能体对该系统进行模块化封装,对生产计划与调度中的具体问题进行建模,研究生产协同过程中的关键技术和协商机制,并进行协商优化。
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诉讼案号：（2022）川01民初4401，（2022）川01民初4403，（2022）川01民初4403，（2022）川0191民初19351号， （2022）川0191民初19594号，（2022）川0191民初20457号，（2022）川0191民初20459号， （2023）川知民终373号，（2023）川知民终374号，（2023）川知民终375号， （2024）川0191民初15977号，（2024）川0191民初15979号，（2024）川0191民初15980号， （2024）川0191民初15981号，（2024）川0191民初15982号
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