作者:王炫华译
作者:《半导体器件可靠性》编写组编
作者:孙伟锋,刘斯扬,魏家行,李胜,张龙著
定价:¥58.00
作者:卢昆祥编著
作者:(美)茜亚(R.F.Shea)著;...
作者:郭祥云主编
作者:上海市仪表电讯工业局科技情报研究所
作者:吉云,吉英译
作者:中国科学技术情报研究所重庆分析编
作者:(日)安食恒雄主编;日本松下电子工...
作者:
作者:高光渤,李学信编著